涂膜測厚儀在測量前要做二點(diǎn)校準和零點(diǎn)校準，二點(diǎn)校準就是把標準膜片放在金屬基片上測試，如果在允許誤差就不需要進(jìn)行二點(diǎn)測試，如果誤差很大校準結束后在測試標準片，直到顯示的數據正常為止。零點(diǎn)校準就是將機器打開(kāi)調到零點(diǎn)校準的模式，在被測工件上測試然后完成就可以。

涂膜測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做磁性測厚法的時(shí)候要注意以下八點(diǎn)

1.在進(jìn)行磁性測厚法的時(shí)候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

2.在測量的時(shí)候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。

3.在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

4.在測量的時(shí)候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

5.測量前要注意周?chē)渌碾娖髟O備會(huì )不會(huì )產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì )將會(huì )干擾磁性測厚法。

6. 測量時(shí)要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的儀器試件表面形狀的忽然變化很敏感。

7.在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì )影響測量的讀數。

8.在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此在進(jìn)行對側頭清除附著(zhù)物質(zhì)。